歡迎光臨標(biāo)一防偽官方網(wǎng)站！防偽查詢
在核技術(shù)發(fā)展的早期，科學(xué)家們用云霧室來(lái)探測(cè)核粒子徑跡，即在空腔內(nèi)充滿過(guò)飽和蒸氣，當(dāng)核粒子穿過(guò)云霧室時(shí)，在其經(jīng)過(guò)的路徑上留下一條白色的軌跡，然后拍照保留徑跡圖像，這就是最早期的核徑跡技術(shù)。核孔膜是６０年代在固體核徑跡技術(shù)的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的，在過(guò)濾、物質(zhì)分離等方面獲得廣泛的應(yīng)用。到７０年代初，美國(guó)首先進(jìn)行了商品化生產(chǎn)，我國(guó)是在８０年代初，作為"六五"科技攻關(guān)項(xiàng)目開始研制核孔膜，到８０年代末已具備相當(dāng)規(guī)模的生產(chǎn)能力。 二.核孔膜的防偽原理核孔膜做為防偽標(biāo)簽是利用選擇性的輻照和蝕刻，在塑料薄膜的局部做成核孔膜，形成特定的圖案，即由微孔組成的人工設(shè)計(jì)圖案。
其防偽原理是：0
1．核孔膜的制造需要尖端的核技術(shù)和昂貴的核設(shè)施，這些敏感的核設(shè)施都控制在國(guó)家級(jí)的
大型核技術(shù)研究單位里，都在國(guó)家核安全局的監(jiān)管之下，造假者很難具備。
2．一般核電站的反應(yīng)堆不能用來(lái)制造核徑跡防偽膜，只有特殊結(jié)構(gòu)的反應(yīng)堆才能用來(lái)制造
核徑跡防偽標(biāo)簽
3．核孔膜的制造需要高質(zhì)量的科技人員．高能物理技術(shù)和核技術(shù)，都是當(dāng)今世界的尖端技
術(shù)，在世界上也只有少數(shù)國(guó)家能掌握。
4．孔在微觀上分布是不均勻的，按隨機(jī)規(guī)律分布．由重離子加速器生產(chǎn)的核徑跡防偽標(biāo)志
膜，它的孔道基本是平行的，而用核反應(yīng)堆生產(chǎn)的核徑跡防偽標(biāo)志膜，它的孔道是有一
定的散射角分布的，后者更不容易仿造。
核徑跡防偽標(biāo)簽的識(shí)別方法
1．適合專家識(shí)別的方法，利用在圖案中由核徑跡形成的微孔進(jìn)行防偽識(shí)別。撕下核徑跡防偽標(biāo)志膜，在光學(xué)顯微鏡下觀測(cè)十幾微米厚、由塑料薄膜制成的核徑跡防偽標(biāo)志，可以觀測(cè)到核徑跡防偽標(biāo)志的圖案部分是由核徑跡形成的微米級(jí)微孔組成。這些微孔的孔徑和孔密度可以根據(jù)用戶的要求改變，即不同的生產(chǎn)廠家可以有他自己的孔徑和孔密度。其微孔的孔型為圓柱狀，其孔的分布是隨機(jī)的，對(duì)于由重離子加速器生產(chǎn)的核徑跡防偽標(biāo)志，各圓柱孔道幾乎是平行的；而由核反應(yīng)堆生產(chǎn)的核徑跡防偽標(biāo)志，各圓柱孔道按一定離散角隨機(jī)分布。后一種核徑跡防偽標(biāo)志的仿制幾乎是更不可能。上述方法也可用圖像分析儀分析圖案部分的孔徑、孔密度進(jìn)行識(shí)別。
2．適合消費(fèi)者的識(shí)別方法之一：利用微孔道的透過(guò)性進(jìn)行防偽識(shí)別。用水、酒等液體涂抹核徑跡防偽標(biāo)志的圖案，由于孔道充滿液體，膜的光學(xué)結(jié)構(gòu)發(fā)生變化，圖案變淺甚至消失；如圖案背面印有彩色圖案時(shí)，則圖案背面的彩色圖案變得更加明顯。一旦液體蒸發(fā)，圖案恢復(fù)原狀。用鋼筆、圓珠筆或其他彩色筆在防偽標(biāo)簽上劃寫，則在防偽標(biāo)簽的圖案部分背襯的白紙上，由于墨水的透過(guò)，留下相應(yīng)的顏色，而在防偽標(biāo)簽沒(méi)有圖案部分，由于沒(méi)有微孔則不留下任何顏色。 2．適合消費(fèi)者的識(shí)別方法之二：利用孔道的吸附性進(jìn)行防偽識(shí)別。同樣用上述方法進(jìn)行檢測(cè)，用鋼筆、圓珠筆或其他彩色筆在防偽標(biāo)簽上劃寫，擦去表面的顏色，由于顏色滲透到微孔中，在防偽標(biāo)簽圖案部分留下的顏色不可能在短時(shí)間內(nèi)去除，而在防偽標(biāo)簽的沒(méi)有圖案部分，則可立即去除。
3．適合消費(fèi)者的識(shí)別方法之三：利用高倍放大鏡進(jìn)行防偽識(shí)別。用２０ 倍的放大鏡仔細(xì)觀測(cè)防偽標(biāo)簽的圖案部分，可以看到圖案是由不規(guī)則的點(diǎn)所組成。